半导体及应用方案实验室能力：
静态参数测试分析能力
1. 二极管和桥堆的反向恢复时间，正向浪涌，VF, VB, IR等参数测试分析
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| 反向恢复时间测试仪 | 多功能二极管及桥基本性能测试仪 | 二极管及桥基本性能测试仪 |
动态参数测试能力
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| 温度-VF/温度-IR 测试系统 | 间歇/连续功率老化测试 |
目的：实验室本着“开放、融合、实践、创新”的理念，主要用于半导体器件的性能评估，失效性分析，应用电路的可靠性验证，从而实现优选元器件的初心。我们相信， 凭借本公司打造的共公实验室的建设，对半导体器件的专研和探索，我们一定能够得实现以客户需求为中心的发展战略，为客户的产品管控做出一份贡献。
服务接收：
以下两种方式，供您二选一；需求提交后，一个工作日内将有专人联系沟通服务细节。
1. 现场测试：预约前往位于深圳的越加红共享实验室，由资深技术专家陪同，现场使用相关仪器及组件进行测试。
2. 在线测试：预约寄件，在线远程测试，技术专家将通过电话等方式远程沟通帮助您完成测试，反馈相关测试结果。
预约流程：
提交预约申请，等待审核——工作人员与您确认相关事宜——审核通过，收到短信，邮件通知——凭短信或邮件使用实验室
实验室地址：深圳市宝安区西乡街道臣田建源智创园A1 栋 6 楼
联系人：寸工
电话：18665379597
